Perkhidmatan : Deben

Nama Model: MICROTEST siri in situ ujian tegangan dinamik

Pengilang: Deben

Pengedar: Opodong Co., Ltd.

Pengenalan produk:

Pengenalan Ciri Produk:

Meja peregangan in situ elektroskop imbas adalah alat dinamik untuk memerhatikan dan menganalisis bentuk deformasi mikroskopik bahan dan mekanisme pecahan yang memainkan peranan penting dalam penyelidikan sempadan sains bahan. Ujian bahan pada elektroskop imbas boleh memanfaatkan sepenuhnya kedalaman medan yang kuat, resolusi ruang yang tinggi dan fungsi analisis elektroskop imbas untuk melakukan penyelidikan dinamik tentang sifat mekanik bahan di peringkat mikroskop.

Meja sampel siri MICROTEST Deben boleh melakukan ujian tarikan untuk banyak bahan seperti bahan logam (kajian proses pengikat, perubahan fase yang disebabkan oleh tekanan dan deformasi plastik), bahan polimer, bahan seramik dan lain-lain. Imej in situ perubahan morfologi struktur mikroskop dengan elektroskop imbasan untuk memahami sebab perubahan morfologi dan imej sebab perubahan dan masa perubahan. Menggabungkan maklumat tentang eksperimen dinamik boleh mengatasi ketidakpastian mengenai tafsiran data tekanan / strain tradisional. Untuk ujian tarikan, pemerasan dan lenturan, kami menawarkan pelbagai peranti dengan beban dari 2N hingga 5000N.

MICROTEST tempatan tempatan direka khusus untuk SEM, terdapat empat versi yang boleh digunakan, masing-masing untuk tempatan tempatan dengan julat beban yang lebih besar 200N, 300N, 2000N, 5000N.

1.MICROTEST200 siri meja peregangan

Stesen ujian dinamik boleh beroperasi di dalam dan di luar SEM. Beban 200N yang besar, boleh menjalankan eksperimen peregangan dan pemampatan, dan boleh dilengkapi dengan 3 atau 4 titik lenturan ke arah mendatar. MICROTEST200B boleh mencapai lenturan tiga titik menegak.

2.MICROTEST300 siri meja peregangan

Stesen ujian dinamik boleh beroperasi di dalam dan di luar SEM. Beban 300N yang besar, boleh menjalankan eksperimen peregangan dan pemampatan, boleh dilengkapi dengan 3 atau 4 titik lenturan ke arah mendatar. MICROTEST200B boleh mencapai lenturan tiga titik menegak.

3.MICROTEST2000 siri meja peregangan

Modul meja sampel ujian dinamik MICROTEST2000 dan MICROTEST2000E, beban besar 2000N, boleh digunakan di dalam dan di luar elektroskop imbas (SEM). MICROTEST2000 boleh bekerja dalam mod peregangan atau pemampatan dan boleh dilengkapi dengan pemasangan lenturan mendatar. MICROTEST 2000B direka untuk pemasangan lenturan 3/4 titik menegak. Meja tarikan MICROTEST 2000E direka untuk mengkonfigurasi penyelidikan elektroskop imbas EBSD (versi suhu bilik MICROTEST 2000ES, versi penyejukan air MICROTEST 2000EW, adalah konfigurasi asas untuk peralatan pemanasan dan rakan sekerja boleh memilih untuk menaik taraf EH2000 untuk mencapai ujian tarikan dalam keadaan pemanasan).

MICROTEST 5000 siri

MICROTEST5000 adalah modul sampel ujian dinamik beban tinggi (5000N) yang boleh digunakan dalam mod tarikan atau pemampatan untuk menjalankan percubaan tarikan dan pemampatan dengan lenturan 3 atau 4 titik ke arah mendatar. (MICROTEST5000S adalah versi suhu bilik, MICROTEST5000W adalah versi penyejukan air, dan merupakan konfigurasi asas peralatan pemanasan, sementara ia boleh dilengkapi dengan peningkatan H5000 untuk ujian tegangan dalam keadaan pemanasan atau penyejukan yang sama).

Pengenalan jenama:

Syarikat Deben ditubuhkan pada tahun 1964 dan memasuki pasaran China pada akhir 1970-an. Deben mempunyai reputasi yang tinggi dalam komuniti elektroskop global untuk prestasi tinggi dan kemajuan teknologi produk-produknya.

Sebagai pengeluar profesional di dunia dalam reka bentuk dan pembuatan aksesori untuk meningkatkan dan memperluaskan fungsi mikroskop elektron, produk mereka meliputi semua keperluan dari penyediaan sampel hingga pengimejan, analisis dan banyak lagi. Rangkaian aplikasi produk termasuk bidang sains bahan, sains hayat, geofizik, elektronik, sains tenaga dan lain-lain. Rangkaian pelanggan meliputi institut penyelidikan saintifik, universiti, pelbagai institusi ujian dan makmal syarikat perindustrian besar di seluruh dunia dan diiktiraf secara meluas dalam bidang penyelidikan saintifik antarabangsa.

Pengenalan pengedar:

Opodong Co., Ltd. adalah pembekal perkhidmatan mikro-nanoteknologi profesional di China, sebuah syarikat teknologi tinggi yang berinvestasi asing sebagai latar belakang pelaburan, yang berpusat di Hong Kong dan mempunyai cawangan dan pejabat di Beijing, Shanghai, Liaoning, Shandong dan lain-lain. Sebagai rakan kongsi strategik penting di rantau China untuk mikroskop elektronik ZEISS, peralatan sampel mikroskop elektronik imbas Deben dan peralatan analisis gabungan, syarikat ini mematuhi konsep perniagaan "membina jenama jualan instrumen yang berpengaruh domestik", dengan kerjasama yang kuat dengan ZEISS, jenama Deben, menyediakan produk berkualiti tinggi dan perkhidmatan teknikal profesional antarabangsa kepada puluhan ribu pengguna China.

Ciri-ciri teknikal utama produk:

Julat beban besar: 200N, 300N, 2000N dan 5000N

Sensor timbangan yang boleh ditukar sehingga 2N

Kadar tekanan: 5 μm / min - 6 mm / min

4, pilihan 3 titik dan 4 titik lampiran lenturan mendatar

Lampiran khusus sampel EBSD

6, pemanasan dan air sejuk yang dilengkapi dengan penjepit tersuai

Antara muka pengguna perisian yang mudah menyediakan lengkung tegangan tekanan masa nyata, menggabungkan nilai injap yang fleksibel untuk melakukan eksperimen yang rumit, termasuk beban kitaran.

8, menyokong imej yang disegerakkan dan pengambilan data, boleh melakukan analisis terperinci proses perubahan sampel melalui tekanan.

Bidang aplikasi utama produk:

1, logam dan lapisan: digunakan untuk mengkaji perubahan butiran, keadaan gabungan lapisan, perubahan suhu tinggi dan mekanisme santai, putaran butiran dan perubahan tekstur.

Bahan komposit: digunakan untuk mengkaji ketahanan dan kekuatan bahan

Gentian: Kekuatan bahan kajian

Polimer: digunakan untuk mengkaji aliran plastik dan mekanisme kegagalan

Bahan-bahan rapuh: kajian asal-usul retakan kecil dan fenomena pasivasi

Geologi: Kajian eksperimen pemampatan panas batu dan mekanisme deformasi sejuk teras batu ais